Velleman DVM1500 - Manual (Page 50)

DVM1500
V. 03 – 04/11/2013 50 ©Velleman nv
1. Conecte la punta de prueba roja al borne « VΩ °CHz » y la punta de
prueba negra al borne « COM ».
2. Seleccione el rango .
3. Pulse la tecla « FUNC » para seleccionar la prueba de continuidad .
4. Conecte las puntas de prueba al circuito.
El aparato emite un tono continuo y visualiza la caída de tensión si la
resistencia es inferior a ± 40 Ω. Si la resistencia es superior al rango
seleccionado o en caso de un circuito abierto, se visualiza « OL » para
indicar el sobre rango.
Observación: No mide la continuidad de un circuito bajo tensión y descargue
todos los condensadores antes de la medición.
Medir el diodo
No mida el diodo de un circuito bajo tensión.
1. Conecte la punta de prueba roja al borne « VΩ °CHz » y la punta de
prueba negra al borne « COM ».
2. Seleccione el rango .
3. Pulse la tecla « FUNC » para seleccionar la prueba de diodos .
4. Conecte la punta de prueba roja al ánodo del diodo y la punta de prueba
negra al cátodo.
El multímetro visualiza la tensión directa aproximativa del diodo.
El multímetro visualiza « OL » en caso de una conexión invertida.
Observaciones
No mida el diodo de un circuito bajo tensión y descargue todos los
condensadores antes de la medición.
Medir el diodo incorporado en un circuito puede causar valores incorrectos.
Desconecte el diodo que quiere medir del circuito.
Medir la capacidad
No mida la capacidad de un circuito bajo tensión.
1. Conecte la punta de prueba roja al borne « VΩ °CHz » y la punta de
prueba negra al borne « COM ».
2. Seleccione el rango .
3. Pulse la tecla « RANGE » para seleccionar el rango de manera manual.
4. Conecte las puntas de prueba al condensador. El valor medido se
visualiza.
Observaciones:
El multímetro estabiliza los datos visualizados sólo después de 5 a
30 segundos, lo que es normal para mediciones de fuertes capacidades.
Para aumentar la precisión de las mediciones de valores inferiores a 4 nF,
primero conecte las puntas de prueba. Recuerde el valor de capacidad
visualizado y réstelo del valor de capacidad medido del circuito. Luego,
reste este valor del valor del circuito medido.